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DX-HAST350F電子電路元件 hast 蒸汽老化試驗箱
電子電路元件 hast 蒸汽老化試驗箱（Highly Accelerated Stress Test）是一種用于加速電子元件、集成電路、電子設(shè)備等在濕熱環(huán)境下老化過程的設(shè)備。該試驗箱通過模擬高溫、高濕的環(huán)境，快速測試電子元件在高應(yīng)力條件下的耐久性和可靠性，通常用于質(zhì)量控制和產(chǎn)品驗證階段。
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更新日期
2024-12-14
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廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家
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497
DR-H203-2S光通信設(shè)備冷熱循環(huán)沖擊試驗箱
光通信設(shè)備冷熱循環(huán)沖擊試驗箱是一種專門用于測試和驗證光通信設(shè)備（如光纖、光模塊、光收發(fā)器等）在惡劣溫度環(huán)境下的性能、穩(wěn)定性和可靠性的實驗設(shè)備。光通信設(shè)備通常在實際應(yīng)用中面臨溫度波動，尤其是在戶外通信設(shè)施或數(shù)據(jù)中心等場景中，溫度變化較為劇烈。因此，冷熱循環(huán)沖擊試驗箱通過模擬這些溫度變化，幫助驗證光通信設(shè)備在溫度極限條件下的適應(yīng)能力。
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更新日期
2024-12-13
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廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家
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544
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DR-H203-2R人工智能芯片熱循環(huán)沖擊試驗箱
人工智能芯片熱循環(huán)沖擊試驗箱是一種專門用于測試人工智能（AI）芯片在不同溫度環(huán)境下的穩(wěn)定性和可靠性的實驗設(shè)備。AI芯片廣泛應(yīng)用于自動駕駛、智能家居、云計算、數(shù)據(jù)中心等領(lǐng)域，它們必須在惡劣溫度變化（冷熱沖擊）下保持穩(wěn)定的性能。熱循環(huán)沖擊試驗箱通過模擬實際工作環(huán)境中可能出現(xiàn)的溫度波動，幫助驗證AI芯片的耐溫性、可靠性以及長期穩(wěn)定性。
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更新日期
2024-12-13
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廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家
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DR-H203-2Q模塊芯片冷熱循環(huán)沖擊試驗箱
模塊芯片冷熱循環(huán)沖擊試驗箱是一種專門設(shè)計用于測試電子模塊、芯片及其組件在溫度變化和冷熱沖擊環(huán)境下的可靠性和耐久性的實驗設(shè)備。隨著電子產(chǎn)品向更高性能、更小體積發(fā)展，電子模塊和芯片在各種工作條件下的可靠性變得尤為重要，因此需要進行冷熱循環(huán)沖擊試驗，以確保其在實際應(yīng)用中能穩(wěn)定工作。
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更新日期
2024-12-13
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廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家
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DR-H203-2P車載傳感器冷熱循環(huán)沖擊試驗箱
車載傳感器冷熱循環(huán)沖擊試驗箱是一種用于測試車載傳感器（如溫度傳感器、壓力傳感器、加速度傳感器等）在惡劣溫度變化和冷熱沖擊條件下的可靠性與耐久性的專業(yè)設(shè)備。車載傳感器廣泛應(yīng)用于汽車電子系統(tǒng)中，負責監(jiān)測車輛的各種參數(shù)并提供數(shù)據(jù)支持，以確保車輛的安全性、穩(wěn)定性和高效性。因此，這些傳感器必須能夠在汽車使用過程中遭遇的惡劣溫差和環(huán)境條件下穩(wěn)定工作。
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更新日期
2024-12-13
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廠商性質(zhì)
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2024-06-07
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